檢測(cè)碳化硅微粉的方法有哪些
        
                            
        
                                點(diǎn)擊次數(shù)：                                  更新時(shí)間：18/01/23 10:39:01                                    來(lái)源：daviddmorse.com
                                                                分    享:  
        
        
                                    
        
                            
        
	今天為大家簡(jiǎn)單的介紹一下檢測(cè)碳化硅微粉的方法，希望對(duì)大家有所幫助。
        
 　　1、原子吸收：這種檢測(cè)方法能夠檢測(cè)硅的含量，判斷碳化硅的硬度，檢測(cè)的數(shù)值。
        
 　　2、電阻法顆粒分析：采用電阻法顆粒分析儀對(duì)碳化硅的粒徑進(jìn)行測(cè)量，這能有效判斷碳化硅的切割性，檢測(cè)效率比較高。
        
 　　3、顆粒分析儀：對(duì)顆粒形狀的系數(shù)測(cè)量，是檢測(cè)碳化硅切割效率和切割質(zhì)量的有效方法。
        
 　　看了上面的介紹，相信大家都有了一定的了解了吧。如果您還有什么疑問(wèn)，歡迎來(lái)電咨詢，我們竭誠(chéng)為您服務(wù)。